新品發(fā)布?。刿嚯姍C(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

新品發(fā)布?。刿嚯姍C(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

近期我司新推出壺坂電機(jī)TSUBOSAKA 超薄大尺寸LED光源 VLB-3636LGP-CRI 

壺坂電機(jī)TSUBOSAKA VLB-3636LGP-CRI 超薄大尺寸LED光源是一款采用x進(jìn)導(dǎo)光板（LGP，Light Guide Plate）技術(shù)的面光源產(chǎn)品。它以360mm × 360mm的大面積均勻發(fā)光配合j致纖薄的機(jī)身，為液晶面板檢測(cè)、半導(dǎo)體外觀檢查、醫(yī)療影像觀察等高精度光學(xué)檢測(cè)場(chǎng)景，提供了兼具輕薄形態(tài)與光學(xué)性能的理想照明解決方案。

該產(chǎn)品的核心在于其LGP導(dǎo)光板光學(xué)設(shè)計(jì)。不同于傳統(tǒng)的直下式LED陣列，VLB-3636LGP-CRI采用側(cè)邊入光配合精密導(dǎo)光網(wǎng)點(diǎn)結(jié)構(gòu)，使光線在導(dǎo)光板內(nèi)部充分混合后均勻射出。這一設(shè)計(jì)不僅實(shí)現(xiàn)了機(jī)身厚度的j致壓縮，更確保了整個(gè)發(fā)光面亮度的高度一致，消除了LED點(diǎn)陣帶來(lái)的亮度不均或暗區(qū)現(xiàn)象，特別適合對(duì)背景均勻性要求極為嚴(yán)苛的視覺(jué)檢測(cè)應(yīng)用。

在光學(xué)性能方面，VLB-3636LGP-CRI延續(xù)了壺坂電機(jī)對(duì)高品質(zhì)色彩還原的堅(jiān)持。其平均顯色指數(shù)高達(dá)Ra 95以上，能夠精準(zhǔn)呈現(xiàn)被測(cè)物體的真實(shí)色彩，滿足液晶面板Mura檢測(cè)、彩色濾光片外觀檢查等高精度色彩評(píng)價(jià)需求。光源采用DC直流點(diǎn)燈方式，消除了頻閃干擾，確保與高速線陣相機(jī)或高分辨率面陣相機(jī)配合時(shí)，圖像采集的穩(wěn)定與清晰。

該光源的亮度均勻性表現(xiàn)尤為突出。得益于導(dǎo)光板的精密光學(xué)設(shè)計(jì)，其整個(gè)360mm×360mm發(fā)光面的亮度不均勻性可控制在±5%以內(nèi)。這意味著無(wú)論是中心區(qū)域還是邊緣角落，被測(cè)物體都能接收到高度一致的照明條件，為大尺寸樣品的全面檢測(cè)提供了可靠的均勻背景。亮度調(diào)節(jié)范圍寬廣，支持0-100%連續(xù)調(diào)光，且采用定電流控制技術(shù)，確保調(diào)光過(guò)程中色溫與光譜特性保持穩(wěn)定。

在結(jié)構(gòu)與安裝便利性上，VLB-3636LGP-CRI充分考慮了工業(yè)集成需求。超薄機(jī)身配合輕量化設(shè)計(jì)，使其可輕松嵌入各類自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備、觀察暗箱或精密測(cè)量系統(tǒng)中。設(shè)備支持外部控制接口，便于實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程調(diào)光與開(kāi)關(guān)控制，適應(yīng)自動(dòng)化產(chǎn)線的集中管控需求。其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛：在液晶顯示行業(yè)，用于背光模組檢測(cè)、面板Mura評(píng)估、偏光片外觀檢查；在半導(dǎo)體領(lǐng)域，適用于晶圓表面缺陷檢測(cè)、芯片封裝外觀檢查；在印刷電路板行業(yè)，可用于大面積焊盤與線路的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)；在醫(yī)療影像領(lǐng)域，則作為膠片觀察或數(shù)字病理掃描的均勻背光源。